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Informations clés

  • Localisation : Rue J. Starcky
  • Scanner piézoélectrique : Pb(Ti,Zr)O₃ (PZT)
  • Gamme de balayage : X/Y : 100 µm × 100 µm, Z : 10 µm
  • Détecteur : Photodiodes à 4 quadrants
  • Résolution : Résolution atomique ; résolution verticale de l’ordre de la fraction de nanomètre

Accessibilité : Libre service pour les permanents et doctorants ayant un grand nombre d’échantillons, après formation par le responsable technique

Available Accessories

  • Liquid cell
  • Sample holder with tensile device
  • Heating stage

Microscope à force atomique FlexAFM

Le FlexAFM est un microscope à force atomique de haute précision permettant l’étude de la topographie, des propriétés mécaniques et électromagnétiques de surface à l’échelle nanométrique. Il offre une grande flexibilité d’utilisation et peut être utilisé dans différents environnements (air, liquide, boîte à gant).

Pour quelles utilisations ?

 

Le FlexAFM permet :

  • L’imagerie topographique de surface à l’échelle nanométrique
  • L’analyse des forces d’interaction (adhésion, friction)
  • L’étude des propriétés électrostatiques, magnétiques et mécaniques à l’échelle locale
  • La nano-lithographie par contact

Domaines d’application

  • Matériaux (métaux, polymères, céramiques)
  • Biologie (molécules, membranes, cellules)
  • Nanotechnologies (nano-objets, couches minces, fibres, poudres)
  • Chimie de surface
  • Caractérisation en conditions spécifiques (liquide, atmosphère contrôlée, boîte à gant)

Types de mesures disponibles

Modes Opératoires : 

  • Mode contact :
    • Morphologie de surface
    • Force de friction
    • Force d’adhésion
    • Modulation de force
    • Nano-lithographie
  • Modes résonants :
    • Tapping mode
    • Phase contrast
    • KPFM (Kelvin Probe Force Microscopy)
    • EFM (Electrostatic Force Microscopy)
    • MFM (Magnetic Force Microscopy)