AFM ou Microscopie à champ proche

Responsable

Airoudj Aissam
Contacts : aissam.airoudj@uha.fr ou philippe.kunemann@uha.fr

Description

La plateforme de Microscopie à Force Atomique (AFM) de l’IS2M permet l’imagerie et la caractérisation des matériaux à l’échelle nanométrique et atomique. Cette technique repose sur l’interaction locale entre une pointe nanométrique et la surface de l’échantillon, permettant une résolution verticale de l’ordre de l’angström et une visualisation en 3D de la topographie de surface.

En plus de l’imagerie, la plateforme permet de cartographier localement les propriétés physiques (mécaniques, électriques, magnétiques) et chimiques des surfaces. Elle répond ainsi aux besoins croissants de la recherche en nanosciences et nanotechnologies pour la compréhension des structures et des fonctionnalisations de surface à très petite échelle.

Types de mesures disponibles

• Imagerie topographique en mode Contact, Tapping, PeakForce Tapping
• Caractérisation mécanique (LFM, PeakForce QNM)
• Mesures de conductivité locale et de propriétés électriques (KPFM, EFM, TUNA, PeakForce TUNA, CAFM)
• Mesures magnétiques (MFM, PeakForce MFM)
• Caractérisation en milieu liquide, humide ou sous atmosphère contrôlée
• Microscopie à effet tunnel (STM)

Domaines d’activités : 

• Matériaux fonctionnels et polymères
• Surfaces et interfaces
• Nanotechnologies et dispositifs électroniques
• Revêtements et traitements de surface
• Biomatériaux et systèmes biologiques
• Sciences des matériaux, chimie, physique et ingénierie des surfaces

Types d’échantillons

• Films minces et couches minces
• Matériaux en vrac à surface plane ou polie
• Nanoparticules déposées sur substrat
• Surfaces fonctionnalisées ou traitées
• Échantillons biologiques (dans certaines conditions)
• Échantillons pouvant être étudiés en environnement liquide, gaz neutre ou sous contrôle thermique

Descriptif technique