Microscopies électroniques

Responsable

Vidal Loïc
Contacts : loic.vidal@uha.fr ou ludovic.josien@uha.fr

Description

La plateforme de microscopie électronique permet l’observation et l’analyse de tous types de matériaux, du nanomètre à l’échelle macroscopique. Grâce à ses équipements de pointe (microscopes électroniques à balayage – MEB – et en transmission – MET), elle fournit des informations détaillées sur la morphologie, l’organisation interne, la structure cristallographique et la composition chimique des échantillons.

Cette plateforme est un outil transversal utilisé dans de nombreux domaines de recherche et d’innovation, notamment pour la caractérisation de matériaux complexes, de structures fines ou d’interfaces critiques.

Types de mesures disponibles

• Observation en très haute résolution (jusqu’à l’échelle atomique avec le MET)
• Imagerie topographique (MEB)
• Cartographie élémentaire par spectroscopie EDX
• Analyse de phase/cristallinité par diffraction électronique
• Observation en mode transmission et balayage
• Imagerie 2D/3D, mesures de dimensions, épaisseurs de couches

Domaines d’activités :

• Science des matériaux (polymères, céramiques, composites, métaux, alliages…)
• Nanotechnologies et objets nanostructurés
• Caractérisation de matériaux poreux et fonctionnels
• Biomatériaux et objets biologiques
• Microélectronique et ingénierie des surfaces
• Études environnementales (particules fines, polluants solides…)

Types d’échantillons acceptés

• Matériaux solides (organiques, inorganiques, hybrides)
• Poudres, fibres, films minces
• Matériaux poreux, polymères, carbones
• Échantillons biologiques (préparés selon protocole adapté)
• Objets nanostructurés ou microstructurés

Descriptif technique