Microscopies électroniques
La microscopie électronique permet d’observer tous types de matériaux de l’échelle nano à l’échelle macro. Les informations obtenues renseignent sur la morphologie et la chimie de surface comme sur l’organisation interne et la composition chimique.
Responsable
Vidal Loïc
Contacts : loic.vidal@uha.fr ou stephan.knopf@uha.fr ou ludovic.josien@uha.fr
Description
Domaines d’activités :
Les équipements de la plateforme (microscopes électroniques à balayage et microscopes électroniques en transmission) permettent de réaliser des caractérisations morphologiques, chimiques et cristallographiques de tous types de matériaux (polymères, solides poreux, carbones, objets biologiques, …).
Principaux équipements (forces de l’Institut) :
La plateforme est équipée de 4 microscopes et d’un ultramicrotome pour la préparation d’échantillons :
- 1 microscope électronique en transmission à résolution atomique (JEOL, ARM-200F) équipé d’un système d’analyse chimique
- 1 microscope électronique en transmission (Philips, CM200)
- 1 microscope à électronique à balayage (Philips, XL30) équipé d’un système d’analyse chimique
- 1 microscope électronique à balayage de type environnemental (FEI, Quanta 400) équipé d’un système d’analyse chimique
- 1 ultramicrotome cryogénique (Leica, EM UC7)
Descriptif technique
Microscope électronique à balayage Philips, Modèle XL30
| Localisation | rue A. Werner |
| Canon | à effet de champ – pointe W/ZrO2 |
| Mode de fonctionnement | haut vide |
| Résolution | 2 nanomètres environ |
| Contrainte de préparation d’échantillons | les échantillons doivent être conducteurs (métallisation nécessaire pour les échantillons isolants) |
| EDX | tous les éléments détectables à partir du carbone et quantifiables à partir du sodium |
| Moyens de maitrise relatifs à l’environnement | climatiseur et boucle d’eau froide |
| Accessibilité en libre service | oui pour les permanents et étudiants de thèse de l’IS2M ayant un grand nombre d’échantillons et après formation par le responsable technique |
Contact : Ludovic Josien
Microscope électronique à balayage environnemental FEI, Modèle Quanta 400
| Localisation | rue J. Starcky |
| Canon | thermo-ionique, filament W |
| Mode de fonctionnement | haut vide low vaccum (jusqu’à 1 torr d’eau dans la chambre , observation d’échantillons isolants) environnemental (jusqu’à 20 torr d’eau dans la chambre , observation d’échantillons hydratés) |
| Résolutions | haut vide : 5 à 10 nanomètres environ low vaccum : 10 à 20 nanomètres environ environnemental : > à 20 nanomètres |
| Contrainte de préparation d’échantillons | observations en haut vide : les échantillons doivent être conducteurs (métallisation nécessaire pour les échantillons isolants) observations en low vaccum et environnemental : aucune préparation préalable même pour les échantillons isolants |
| Accessoires utilisables en low vaccum et environnemental | platine Peltier : gamme de températures accessibles : -5 à 40°C platine chauffante : gamme de températures accessibles : 20 à 1000°C platine de traction pour films polymères : gamme d’étirements : 0 à 200 % |
| EDX | tous les éléments détectables et quantifiables à partir du bore |
| Moyens de maitrise relatifs à l’environnement | climatiseur |
| Accessibilité en libre service | non |
Contact : Loic Vidal, Stephan Knopf
Microscope électronique à transmission Philips, CM200
| Localisation | rue J. Starcky |
| Canon | thermo-ionique, filament LaB6 |
| Mode de fonctionnement | haut vide |
| Résolution | 0.3 nanomètre |
| Contrainte de préparation d’échantillons | les échantillons doivent avoir une épaisseur inférieure à 100nm (obtenue par broyage ou ultramicrotomie) |
| EDX | tous les éléments détectables et quantifiables à partir du bore |
| Diffraction électronique | possibilité de déterminer les distances inter-réticulaires dans le cas de solides cristallisés |
| Moyens de maitrise relatifs à l’environnement | climatiseur et boucle d’eau froide |
| Accessibilité en libre service | non |
Contact : Loic Vidal
Microscope électronique à transmission JEOL, ARM200
| Localisation | rue J. Starcky |
| Canon | cold FEG |
| Mode de fonctionnement | haut vide |
| Configuration | TEM, STEM : à 80 ou 200kV Présence d’un correcteur de lentille objectif |
| Résolution | 80pm (TEM en mode franges de réseau) |
| Contrainte de préparation d’échantillons | les échantillons doivent avoir une épaisseur inférieure à 100nm (obtenue par broyage ou ultramicrotomie) |
| EDX | analyses semi-quantitatives : tous les éléments détectables et quantifiables à partir du bore. Cartographies chimiques |
| Diffraction électronique | possibilité de déterminer les distances inter-réticulaires dans le cas de solides cristallisés |
| Tomographie | reconstruction 3D des objets observés |
| Moyens de maitrise relatifs à l’environnement | climatiseur et boucle d’eau froide |
| Accessibilité en libre service | non |
Contact : Loic Vidal, Stephan Knopf
IS2M
Bâtiment CNRS
15, rue Jean Starcky - BP 2488
68057 Mulhouse cedex
Bâtiment IRJBD
3 bis, rue Alfred Werner
68093 Mulhouse cedex
tel: (+33)3 89 60 87 00
fax: (+33)3 89 60 87 99
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