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Informations clés

 

Échantillons acceptés :

  • poudres ou échantillons massifs
  • Contraintes : diamètre < 43 mm, hauteur < 6 mm
  • Capacité du passeur : jusqu’à 45 échantillons (réflexion et transmission)

Caractéristiques techniques

  • Anticathode : Cuivre (λ = 1.5418 Å)

  • Goniomètre : Vertical – système θ–θ

  • Détecteur : 1Der

  • Optique incidente ICore :

  • Fentes de Soller BBHD 0.03 rad
  • Miroir Bragg-Brentano HD Cu
  • Masques primaires (0.2, 0.3, 2, 14 mm)
  • Fentes de divergence automatiques ou fixes (1/50 à 1/2°)
  • Atténuateurs : Cu (0.1 mm), Cu (0.2 mm)/Ni (0.2 mm)
  • Optique divergente DCore :
  • Fentes de Soller (0.02 et 0.04 rad)
  • Fentes anti-diffusion (1/32 à 4°)
  • Collimateurs parallèles (0.11 et 0.28°)
  • Filtre Ni, atténuateur Cu 0.1 mm

Accès

Accès non libre-service :

  • Les utilisateurs préparent les échantillons
  • Le passeur est programmé et vérifié par le responsable technique

PANalytical Empyrean – Diffractomètre à rayons X avec passeur automatique

 

Le PANalytical Empyrean est un diffractomètre de dernière génération permettant l’analyse fine de la structure cristalline des matériaux en mode réflexion ou transmission. Il est particulièrement adapté aux études de poudres, films minces et échantillons massifs grâce à sa polyvalence instrumentale et son passeur automatisé.

 

Pour quelles utilisations ?

Le diffractomètre PANalytical Empyrean permet l’identification de phases cristallines, la détermination de la cristallinité, l’analyse structurale fine ainsi que la caractérisation de couches minces ou films.

Domaines d’application

  • Matériaux inorganiques : céramiques, métaux, alliages

  • Matériaux organiques : polymères cristallins, principes actifs pharmaceutiques

  • Géosciences : minéraux, sols, roches

  • Matériaux fonctionnels : oxydes conducteurs, matériaux pour batteries

  • Couches minces : films déposés par CVD/PVD, couches organiques

  • Suivi de transformations thermiques ou chimiques (ex. : recuits, vieillissements)

Types de mesures disponibles

  • Analyse en réflexion (géométrie Bragg-Brentano)
  • Analyse en transmission (géométrie Debye-Scherrer pour films)
  • Domaine angulaire : 0,5 à 140° (2θ)
  • Résolution angulaire : pas de 0.002° (2θ)