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Informations clés :

 

  • Localisation : Rue J. Starcky
  • Source électronique : Canon Cold Field Emission Gun (FEG)
  • Mode de fonctionnement : Haut vide
  • Tensions d’accélération : 80 kV ou 200 kV
  • Configuration : TEM et STEM
  • Résolution spatiale : 80 pm (mode franges de réseau)
  • Correcteur de lentille objectif : Oui

     

    Préparation des échantillons

  • Les échantillons doivent présenter une épaisseur < 100 nm, obtenue par broyage, ultramicrotomie ou autre méthode de minéralisation appropriée.

    Accessibilité : Non accessible en libre-service

 

 

Microscope électronique à transmission – JEOL ARM200

Un microscope TEM/STEM haute résolution dédié à l’analyse structurale, chimique et cristallographique à l’échelle atomique.

Pour quelles utilisations ?

Ce microscope est destiné à la caractérisation de matériaux à l’échelle atomique :

  • imagerie de réseaux cristallins,
  • cartographies chimiques,
  • analyses de structure fine ou de défauts,
  • tomographie électronique.

Domaines d’application :

  • Nanomatériaux et matériaux cristallins
  • Semi-conducteurs et couches minces
  • Biomatériaux ultra-fins
  • Catalyse, céramiques, polymères fonctionnels
  • Sciences des matériaux, chimie, physique du solide

 

Types de mesures disponibles :

  • Imagerie TEM haute résolution : jusqu’à 80 picomètres
  • Mode STEM : pour des contrastes Z ou à haute sensibilité chimique
  • Analyse EDX :
    • Semi-quantitative
    • Détection à partir du bore
    • Cartographies élémentaires
  • Diffraction électronique :
    • Détermination des distances inter-réticulaires
    • Analyse de phases cristallines
  • Tomographie électronique :
    • Reconstruction 3D de nanoparticules ou objets complexes