Informations clés
- Contraintes sur les échantillons
- Taille maximale : 1,5 × 1,2 cm
- Épaisseur < 6 mm
- Scanner piézoélectrique :
- Scanner 10678JVHC : 178 × 178 × 5 µm (X/Y/Z)
- Scanner 10405EVLR : 14 × 14 × 3 µm (X/Y/Z)
- Détecteur : Photodiodes à 4 quadrants
- Résolution : Résolution atomique, résolution verticale de l’ordre de la fraction de nanomètre
- Accessibilité : Libre service pour les permanents et doctorants après formation par le responsable technique
- Localisation : Rue J. Starcky
Microscope à force atomique NanoScope IV
Le NanoScope IV est un microscope à force atomique haute performance permettant l’analyse topographique et fonctionnelle de surface à l’échelle nanométrique. Il est particulièrement adapté à la caractérisation des propriétés mécaniques, électriques et magnétiques locales.
Pour quelles utilisations ?
Le NanoScope IV permet :
- L’étude de la morphologie de surface à très haute résolution
- La cartographie des propriétés mécaniques locales (modulus, adhésion…)
- L’analyse de contrastes électrostatiques et magnétiques
- La mesure des forces intermoléculaires
Domaines d’application
- Matériaux nanostructurés (métaux, polymères, composites)
-
Couches minces, films et revêtements
-
Nanotechnologies et microfabrication
-
Caractérisation en environnement liquide ou contrôlé
-
Applications en physique, chimie et biologie
Types de mesures disponibles
Modes Opératoires :
- Mode contact :
- Topographie
- Friction
- Adhésion
- Modulation de force
- Modes résonants :
- Tapping mode
- Contraste de phase
- KPFM (Kelvin Probe Force Microscopy)
- EFM (Electrostatic Force Microscopy)
- MFM (Magnetic Force Microscopy)