Informations clés
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Préparation des échantillons
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Tous types de matériaux : métaux, polymères, molécules adsorbées…
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Formats : pièces, films, fibres, poudres
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- Contraintes :
- Taille maximale : 1,5 × 1,2 cm
- Épaisseur < 6 mm
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Scanner piézoélectrique : 5161EVLR
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Gamme de balayage : 140 × 140 × 3 µm (X/Y/Z)
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Détecteur : Photodiodes à 4 quadrants
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Résolution : Résolution atomique, résolution en Z de l’ordre de la fraction de nanomètre
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Accessibilité : Libre service pour les permanents et doctorants après formation par le responsable technique
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Localisation : 3bis rue Alfred Werner
Microscope à force atomique – NanoScope V
Ce microscope à force atomique (AFM) permet une analyse de surface à très haute résolution, aussi bien en milieu ambiant qu’en environnement liquide ou contrôlé. Il est adapté à une grande variété de matériaux et propose plusieurs modes d’imagerie, allant de la simple topographie à la caractérisation de forces électrostatiques ou magnétiques.
Pour quelles utilisations ?
Ce microscope est utilisé pour :
- L’imagerie topographique à l’échelle nanométrique
- L’analyse des interactions mécaniques de surface (adhésion, friction)
- L’étude des propriétés électriques et magnétiques locales
Fields of application :
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Science des matériaux
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Chimie des surfaces
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Biologie et biointerfaces
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Nanotechnologies
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Caractérisation de polymères, films minces, fibres, poudres, etc.
Types de mesures disponibles
Modes Opératoires :
- Mode contact :
- Topographie
- Friction
- Adhésion
- Modulation de force
- Modes résonants :
- Tapping mode
- Contraste de phase
- KPFM (Kelvin Probe Force Microscopy)
- EFM (Electrostatic Force Microscopy)
- MFM (Magnetic Force Microscopy)
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Mode PeakForce QNM :
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Cartographie quantitative des propriétés nanomécaniques (module d’Young, adhésion, déformation)
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Milieux de travail
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Air
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Liquide
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Atmosphère contrôlée