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Diffraction des Rayons X (DRX)

La diffraction de RX donne des informations sur la matière solide ordonnée à l’ambiante et lors d’un traitement thermique. L’arrangement géométrique des atomes et la distance entre eux constituent une carte d’identité unique pour chaque composé.

Responsables

Laure Michelin et Ludovic Josien
Contacts : laure.michelin@uha.fr ou ludovic.josien@uha.fr

Description

Domaines d’activités :

Les activités de la plateforme se concentrent sur la caractérisation structurale de tous types de matériaux solides par diffraction ou diffusion des rayons X : identification de phases, étude de la cristallinité ou de l’organisation, réflectométrie, incidence rasante, détermination structurales sur poudre, observation de transitions de phases en température et sous atmosphère contrôlée. En outre, ces caractérisations peuvent être complétées par des analyses par spectrométrie de Fluorescence de rayons X qui permettent de déterminer la composition chimique d’un échantillon et ainsi de faciliter l’identification structurale.

Principaux équipements (forces de l’Institut) :

La plateforme dispose de 3 diffractomètres, un thermodiffractomètre, et un spectromètre de Fluorescence de rayons X :

2 diffractomètres de poudre en géométrie réflexion / transmission avec passeur d’échantillons (Bruker D8 ADVANCE et PANalytical Empyrean)
1 diffractomètre de poudre en géométrie transmission avec rayonnement monochromatique Cu Ka1 (PANalytical Empyrean)
1 thermodiffractomètre (PANalytical X’Pert PRO MPD) équipé d’une chambre en température (Anton Paar HTK1200)
1 spectromètre de Fluorescence de rayons X à dispersion de longueur d’onde (PANalytical Zetium