Informations clés
Échantillons acceptés :
- Poudres (environ 400 mg)
- Fibres
- Échantillons massifs (sous réserve de compatibilité)
Caractéristiques techniques
- Année de mise en service : 2016
-
Localisation : rue J. Starcky
-
Anticathode : cuivre (λ = 1.54 Å)
-
Goniomètre : vertical, balayage θ – θ
-
Domaine angulaire typique : 2° à 130° 2θ (en réflexion, variable selon accessoire)
-
Pas angulaire minimum : 0.0001° 2θ
-
Détecteur : LynxEye XE-T à discrimination d’énergie (<380 eV en haute résolution)
-
Monochromateur : non équipé (Cu, K⍺1, K⍺2)
-
Passeur automatique : 15 échantillons
-
Accessoire spécifique : platine XYZ motorisée (incidence rasante et réflectivité)
Diffractomètre de rayons X – Bruker D8 ADVANCE A25
Le Bruker D8 ADVANCE A25 est un diffractomètre de rayons X de haute précision, conçu pour l’analyse structurale de matériaux sous forme de poudres, de films minces, de fibres ou d’échantillons massifs. Il permet une grande variété de mesures grâce à sa géométrie modulable et à ses accessoires dédiés
Pour quelles utilisations ?
-
Identification de phases cristallines
-
Caractérisation de la micro-structure des échantillons (taille des domaines cohérents, contraintes, micro-déformations)
-
Caractérisation structurale (paramètres de maille, structure cristalline)
Types de mesures disponibles
-
Diffraction en réflexion (Bragg-Brentano)
-
Diffraction en transmission
- Incidence rasante (avec platine motorisée XYZ