Informations clés
Échantillons acceptés :
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Poudres
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Échantillons massifs (diamètre < 43 mm, hauteur < 6 mm)
Caractéristiques techniques
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Année de mise en service : 2023
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Localisation : rue A. Werner
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Anticathode : cuivre (λ = 1.5406 Å)
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Géométrie : transmission capillaire ou film, réflexion (Bragg-Brentano)
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Domaine angulaire d’analyse : 0.5° à 140° 2θ
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Pas angulaire minimum : 0.002° 2θ
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Détecteur : PIXcel 1D
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Monochromateur : Johansson 1xGe111 Cu/Co
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Optiques incidentes : miroir focalisant, fentes de Soller 0.02 rad, masques de 10 et 20 mm, fentes de divergence fixes 1/32 à 1°, fentes anti-diffusion fixes 1/32 à 1°, filtre Ni, atténuateur
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Optiques divergentes : fentes de Soller 0.02 rad, fentes anti-diffusion (1/32 à 4°), filtre Ni
Accès
Accès partiel en libre service :
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Oui, pour les analyses après formation par le responsable technique
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Non, pour les changements de configurations (intervention du responsable nécessaire)
PANalytical Empyrean avec faisceau monochromatique Ka1 – Thermodiffractomètre à rayons X
Le PANalytical Empyrean est un diffractomètre de rayons X de haute performance, idéal pour l’analyse de la structure cristalline des matériaux sous diverses configurations géométriques. Ce système, équipé d’un faisceau monochromatique Cu Ka1, est particulièrement adapté à la diffraction en transmission et réflexion pour les matériaux en poudre ou massifs.
Pour quelles utilisations ?
- Identification des phases cristallines
- Caractérisation des cristallites
- Analyse de la texture et des contraintes résiduelles
- Caractérisation des films minces
- Études en incidence rasante
Types de mesures disponibles
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Diffraction en réflexion (Bragg-Brentano)
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Diffraction en transmission (capillaire ou film, Debye-Scherrer)
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Mesures en incidence rasante
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Études de texture et de contraintes résiduelles
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Analyse de films minces