Informations clés :
- Localisation : Rue J. Starcky
- Source électronique : Filament de tungstène.
- Modes de fonctionnement :
- Vide poussé et vide partiel (basse pression) : Permet d’observer des échantillons conducteurs et non-conducteurs (sans préparation complexe).
- Tension d’accélération ajustable : S’adapte à différents types d’échantillons pour optimiser le contraste et la résolution.
- Tension d’accélération : Réglable de 0,3 kV à 30 kV.
- Résolution :
- 3,0 nm à 30 kV (mode vide poussé)
- 4,0 nm (mode vide partiel).
- Accessibilité : Accessible en libre-service après une formation.
Microscope électronique à balayage – JEOL JSM-IT210
Un microscope électronique à balayage dédié à l’observation et à la caractérisation de la morphologie, de la microstructure de différents types de matériaux et de la composition chimique.
Pour quelles utilisations ?
Ce microscope permet de caractériser les matériaux à l’échelle micro- et nanométrique afin d’étudier :
- la morphologie et la topographie de surface ;
- la taille, la forme et la distribution des particules ;
- la microstructure des matériaux ;
- les défauts, fissures et hétérogénéités ;
- l’organisation et la structure des surfaces.
Domaines d’application :
- Polymères et matériaux composites ;
- Nanomatériaux et particules ;
- Métaux et alliages ;
- Céramiques et matériaux minéraux ;
- Matériaux poreux et matériaux carbonés ;
- Fibres, revêtements et couches minces ;
- Biomatériaux ;
- Sciences des matériaux et contrôle de la qualité ;
Types de mesures disponibles :
- Imagerie en microscopie électronique à balayage (MEB/SEM) :
- observation de la morphologie ;
- étude de la topographie des surfaces ;
- caractérisation de la microstructure.
- Imagerie à différents grandissements :
- observation des structures de l’échelle micrométrique à nanométrique.
- Analyse de la composition chimique :
- identification élémentaire ;
- analyses semi-quantitatives ;
- cartographies chimiques.