Equipements

Présence de multiples techniques d’analyse de surface complémentaires – Microscopie à effet Tunnel (STM), Photoémission (XPS, UPS, ARPES), Diffraction (LEED et XPD) – et associés à différents types de dépôt, inorganique ou organique, afin de réaliser des études structurales et de spectroscopie électronique à l’échelle locale et globale.